简介

ELA 是我们用于电子能量损失谱 (EELS) 和四维扫描透射电子显微镜 (4D STEM) 应用的电子计数检测器。它可以检测弱反射和强反射，以实现高级衍射和成像研究，并允许快速元素映射。该探测器集成在 Gatan 4D-STEM 中。

像素尺寸 [μm2]

75x75

传感器材料

硅 (Si)

能量范围 [keV]

30 - 200

帧速率 (较大) [Hz]

2,250 (16-bit); 4,500 (8-bit)

探测光子效率

0.9 at 100 kV, 0.8 at 200 kV

核心优势

这种混合像素电子探测器快速而灵敏，能够在电子能量损失光谱 (EELS) 和 4D 扫描透射电子显微镜 (STEM) 中进行先进数据收集。                                          

应用领域

    -电子能量损失谱（EELS）                

-4D STEM                                    

介绍手册